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技術(shù)文章
試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：
快速溫度變化濕熱試驗(yàn)箱是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度限下，運(yùn)用溫度加速技巧在上、下限值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失。
關(guān)于試驗(yàn)時(shí)溫度變化的現(xiàn)場(chǎng)條件：
電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
下列情況可預(yù)見快速的溫度變化：
A 當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)；
B 當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水而突然冷卻時(shí)；
C 安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；
D 在某些運(yùn)輸和貯存條件下。
通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，例如：在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然濕冷的。
當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。
試驗(yàn)的目的和試驗(yàn)方法選擇：
推薦按下列情況選擇溫度變化試驗(yàn)：
——評(píng)價(jià)溫度變化條件下的電氣性能，選擇試驗(yàn)Nb；
——評(píng)價(jià)溫度變化條件下的機(jī)械性能，選擇試驗(yàn)Nb；
——評(píng)價(jià)規(guī)定次數(shù)的快速溫度變化后的電氣性能，選擇試驗(yàn)Nb或試驗(yàn)Nc；
——評(píng)價(jià)機(jī)械零部件、材料和材料組合是否適合耐受溫度快速變化，選擇試驗(yàn)Na或試驗(yàn)Nc；
——評(píng)價(jià)元器件的結(jié)構(gòu)是否適合耐受人工應(yīng)力，選擇試驗(yàn)Na或試驗(yàn)Nc。
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